Основы теории статистических измерений
Цветков Э. И.
Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в 1979 г. Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.
年:
1986
出版商:
Энергоатомиздат
語言:
russian
頁數:
257
ISBN 10:
2302010000
ISBN 13:
9782302010000
文件:
DJVU, 1.76 MB
IPFS:
,
russian, 1986
Litres
想添加您的書店？ 通過 support@z-lib.do 與我們聯繫
轉換文件
更多的搜索結果
其他特權 
